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粉尘中游离二氧化硅质量控制样品(焦磷酸法游离二氧化硅质控样,无需加氢氟酸)
ID 产品编号 名称 英文名 CAS编号 产地 规格 询问
528499 ZW501/ZW502 粉尘中游离二氧化硅质量控制样品(焦磷酸法游离二氧化硅质控样,无需加氢氟酸) 卫健委 2支/套 咨 询
详细描述:

一、适用范围和使用方法

本质量控制样品适用于焦磷酸法测定粉尘中游离二氧化硅时对操作人员的操作过程进行质量控制保证结果的准确性。

二、制备方法

取一定量的粉尘,100℃烘干后200目筛子充分混匀后分装制备而成。

三、样品保存和有效期

本质量控制样品自定值之日起,有效期为两年。

四、参考值范围

本质量控制样品由多家单位进行检测定值,确定参考值范围。(仅供参考,具体值请参照随货证书原件)

编号 名称 参考值范围(%)
ZW501-01 粉尘中游离二氧化硅 6.4±1.7
ZW502-01 14.2±2.4

五、均匀性和稳定性

样品均匀性在制备好的样品中随机抽取10%的样品进行检测,结果显示研制的粉尘中游离二氧化硅质量控制样品均匀性良好。

样品稳定性不同天内在相同条件下,对随机抽取的每批样品使用焦磷酸法进行检验稳定性检验结果显示样品稳定性良好。本质量控制样品有效期暂定为两年。

六、注意事项

1.在检测本质量控制样品时无需加氢氟酸进行处理。

2.本质量控制样品主要用于对检测过程中的操作进行质量控制。

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