X 射线衍射 α-SiO2晶格常数标准物质用于 X 射线衍射仪仪器的校准、分析方法确认与评价和测量质量控制等。

一、 样品制备

石英晶体在洗涤后，经破碎、球磨、酸处理、清洗、高温干燥，制得标准物质候选物。

二、 溯源性及定值方法

采用 X 射线衍射仪标准装置—纳米薄膜厚度校准装置（[2014]国量标计证第 273 号）对标准物质定值。该校准装置基于布拉格方程，通过波长、角度测量的计量溯源，建立标准物质特性量值的计量溯源性，其中：角度测量量值通过激光干涉仪和自准直仪溯源至国家角度基准；X 射线波长测量量值通过单晶硅晶格参数溯源至长度的 SI 单位-米（m）。

三、 特性量值及不确定度

标准值的不确定度包括测量过程、测量设备、均匀性及稳定性等不确定度分量。

四、 均匀性及稳定性评估

参照 JJF1343 国家计量技术规范（等效 ISO 33405），通过方差分析法进行均匀性评估，评估结果表明，样品均匀性良好；通过趋势分析方法对样品进行稳定性评估，评估结果表明，样品稳定性良好。

本标准物质自定值日期起有效期 12 个月，研制单位将继续跟踪监测该标准物质的稳定性，有效期内如发现量值变化，将及时通知用户。

五、 包装、贮存及使用

包装：本标准物质包装为棕色样品瓶，每瓶 3 克；

贮存：密封包装，阴凉、干燥处存放；

使用注意事项：开封使用样品时，应确保取样工具等洁净，避免样品沾污。